一、概念定义
SWIR相机测试系统用于评估短波红外（1-3μm波段）成像设备的性能参数；UV相机测试系统用于评估紫外波段成像设备的探测能力与抗干扰性能。两类系统均通过可控辐射源投影与图像分析，在标准化条件下测量分辨率、灵敏度、噪声及光谱响应特性。
INFRAMET于2002年在波兰成立，专注于光电侦察与监视系统测试设备的研发制造，在北约主目录参考系统（NMCRL）中注册（NCAGE代码2468H）。
二、产品矩阵
| 系列代号 | 定位 | 被测对象 | 测试模式/关键参数 |
| ST | 通用型 | SWIR相机 | 反射多色辐射模式、发射辐射模式（黑体）、单色光源模式（1550nm） |
| SINIS | 经济型 | SWIR相机 | ST简化版，手动光源与靶标切换 |
| SIWIR | 产线型 | SWIR相机/机芯 | 两点NUC校准、噪声/灵敏度参数、空间噪声测量 |
| UVIC | 适用型 | 紫外(UV)相机 | 日盲波段UV+日光双通道模拟，UV辐射等级、分辨距离、通道对准偏差 |
三、ST系列详解
ST系列是INFRAMET的通用型SWIR相机测试系统，采用可变靶标测量架构，以离轴反射式平行光管、宽带光源、中温黑体、自动靶轮(MRW-8)、滤光片组、计算机及采集软件构成完整测试链路。
ST系统提供三种测试模式，分别对应SWIR相机的不同技术特征：
模式A —— 反射多色辐射模式
测量VIS-NIR相机典型参数，包括分辨率、MTF、畸变、FOV、灵敏度、SNR、噪声等效输入(NEI)、固定图案噪声(FPN)、非均匀性等。适用于非制冷型InGaAs相机（光谱响应至约1700nm）。
模式B —— 发射辐射模式
测量热像仪典型参数，包括MRTD、MDTD、MTF、NETD、FPN、非均匀性、畸变、FOV等。适用于制冷型扩展波段SWIR相机（光谱响应至约1200nm）。
模式C —— 单色光源模式
在1550nm波段测量InGaAs FPA模块参数，包括平均探测率、噪声等效辐照度、噪声、动态范围等。
SINIS
为ST的简化经济版，采用手动卤素光源替代计算机化校准光源，手动更换靶标替代自动靶轮，通常不配备计算机与测试软件（由用户自行提供），降低采购成本。
SIWIR
面向SWIR相机/机芯的生产阶段测试与校准，支持两点NUC校准、噪声/灵敏度参数测量（噪声等效辐照度NEI/噪声等效辐射度NER）、空间噪声（非均匀性/FPN）测量及简化光谱灵敏度测量。
四、UVIC系列详解
UVIC是INFRAMET针对日盲紫外相机设计的适用测试系统。日盲紫外相机工作在太阳盲区（约240-280nm），利用该波段自然光极弱的特点实现高对比度目标探测，广泛应用于电晕检测、火焰监测、导弹预警等领域。
UVIC系统的主要特征是UV+日光双通道模拟：同时提供可控强度的UV辐射源与日光模拟光源，测试被测相机在两种光照条件下的响应特性。系统可测量：
· UV辐射等级响应
· 双源分辨距离（UV源与日光源同时存在时的目标分辨能力）
· 通道轴对准偏差（UV成像通道与可见光/参考通道的空间对准误差）
· 日光抵抗能力（在强日光背景下的UV信号提取能力）
五、差异化特征
测试模式灵活
ST系列的三模式设计使同一套设备可覆盖非制冷SWIR、制冷SWIR及FPA模块三种测试场景。
版本梯度
从ST（全功能通用型）到SINIS（经济手动型）再到SIWIR（产线适用型），形成研发、质检、生产三级覆盖。
UV专项
UVIC的日盲双通道模拟是针对紫外成像系统标准化检测的专项测试能力。
六、应用场景
SWIR相机研发
ST模式A/B/C分别对应不同技术路线的SWIR相机，帮助研发人员确定传感器选型与制冷方案。
产线标定
SIWIR的两点NUC与噪声参数测量功能支持InGaAs机芯的出厂标定与质量控制。
电力巡检
UVIC支持日盲紫外相机的性能验证，确保电晕检测设备在高压输电线路巡检中的检测能力。
安防监控
SWIR相机在夜间/雾天条件下的成像能力可通过ST系统定量评估，指导设备选型与部署。
七、技术咨询与服务支持
上海明策光电技术有限公司作为INFRAMET品牌在中国的授权代理商，提供包括技术咨询、产品选型、安装指导、调试校准、维修保养在内的全流程服务，为用户提供专业支持。如有疑问可联系明策光电技术团队获取专业支持。
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